线宽测试系统OE4000

线宽测试系统OE4000
    特性
  • 波长测量范围:630-2200nm
  • RIN噪声测量
  • 超低相位/频率噪声测量
  • 快速实时测量
  • 无需低噪声参考光源
  • 良好的用户界面
  • 简便的计算机操作
  • 概述
  • 产品资料

武汉谱线科技代理的美国OEwaves公司的线宽测试系统OE4000采用零差法,对超低相位噪声的连续激光光源进行全自动测量。测量过程简单快速,并且不需要外置的参考光源,能够实现小于3Hz的线宽测量,同时能够进行波长范围、本底噪声、输入功率、RIN测量等功能扩展。


主要指标:

相位本底噪声:-140 ± 2 dBc/Hz @ >1 MHz

光输入功率范围:+5 ~+ 15 dBm

失调频率范围:10 Hz ~1 MHz 

分辨率带宽:0.1 Hz ~200 kHz


测试数据:

       

偏移频率(Hz) 

 

线宽及噪声测量系统OE4000